仪器简介：开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由zei上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种zei灵敏的表面分析技术。
我们的开尔文探针系统包括：
单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；
扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；
超真空(UHV)开尔文探针；
湿度控制的腐蚀开尔文探针；
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技术参数：扫描开尔文探针系统
该开尔文探针系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在ASKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：
*2毫米，50微米探针；
*功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；
*针尖到样品表面距离可以达到400纳米以内；
*功函数或表面势、样品形貌3维地图绘制；
*探针扫描或样品扫描选配；
*彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置(New Port)；
*参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的3D数据)；
*备用的针尖放大器；
*24个月超长质保期；
典型应用
吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；
主要特点：仪器特点：
1）全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；
2）zei高分辨率的功函数和表面势，zei好的稳定性和数据重现性；
3）非零专利技术(Off-null,ON) ――ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；
4）高度调节专利技术 ――我们的仪器在测量和扫描时可以精确控制针尖的高度。因为功函数受样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；
5）该领域内，拥有zei好信噪比的开尔文探针；
6）快速响应时间 ――测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；
7）功能强的驱动器 ――我们选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；
8）所有开尔文探针参数的全数字控制；
开尔文探针扫描系统信息由科睿技术发展有限公司为您提供，如您想了解更多关于开尔文探针扫描系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
