AFM探针使用中存在的问题
      当使用AFM扫描一个新的样品，可能很难知道是否获得了表面的准确信息。即使是样品有着特征结构以及形貌清晰。故此需要一个评估图像上针尖的影响的独立的方法。
      考虑如下：
      1、 一个破碎的或者畸形的针尖导致的不准备的测试结果，这样就必须花额外的时间来分辨获得图像的质量，更加糟糕的是，在针尖的损坏过程中，样品的真实的自然的形貌可能在无意中被忽视。
      2、 利用SEM等显微技术，来寻找针尖是否损坏，既不方便也不经济，不能用于常规的实验。

      一个简单方便而且可取的方法，就是预先筛选所有的AFM探针。这样，所有使用筛选过的探针的人都可以节省时间和精力，避免因破损探针造成的不必要的损失。
      幸运的是，我们提供一种简单有效的方法，可以预先筛选针尖，并且评估分级。

TipCheck的介绍：
      TipCheck利用反向成像提供了快速和简单的方法来评估针尖，而不需要扫描电镜等的使用。
      TipCheck帮助你在图谱上对针尖进行分类，可用与不可用的定性比较。
      TipCheck膜的微观结构是理想的检测针尖在尖端顶点附近的薄膜。
      这里显示的AFM图像，TipCheck的表面，左图是损坏的针尖，右图是好的针尖。
      TipCheck的薄膜是在一个硅片上的芯片，随时可以放置在AFM上使用。
      有详细的技术文档提供图像可与你获得的图像进行比较。
      本样品在清洁，干燥的地方保存，可以使用多年。

http://www.hanstech.com.cn/Pro/supplies/Standards/TipCheck-Aurora.html
 

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途