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CMOS平板探测器

参考报价: 面议 型号: CMOS X射线相机
品牌: Dexela 产地: 美国
关注度: 101 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

CMOS X射线相机由单个半导体硅片制成,可直接探测可见光或配合闪烁晶体用于探测X光和其它高能辐射。针对不同应用,可配备不同厚度Gadox或针状CsI闪烁体,是医学诊断,工业检测,科学成像的理想解决方案,标准能量测试范围为不超过220KV,根据客户要求,能量可到400KV,采用Camera Link接口,全分辨率下最高可到65帧/秒

有效面积(mm)114.9x64.6
分辨率1536x864
像素尺寸(μm)74.8/149.6/299.2;依赖于不同的binning
MTF@6lp/mm大于20%;(150μm HR CsI without binning)
DQE~0.7 at 0.5lp/mm (28 kV, W / Al)
Binning1 x 1, 1 x 2, 2 x 2, 1 x 4, 2 x 4, 4 x 4
工作模式提供低噪声及高动态范围两种
动态范围6400-2400;依赖于不同的工作模式及binning
帧速32-191;依赖于不同的binning及数据接口
ADC分辨率14位
计算机接口Camera Link或千兆以太网
外形尺寸(mm)241 x 150 x 42
重量(kg)1.9


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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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