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分析测试百科网 > 日立 > X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪) > HITACHI EA6000VX 扫描X射线荧光光谱仪

HITACHI EA6000VX 扫描X射线荧光光谱仪

参考报价: 面议 型号: EA6000VX
品牌: 日立 产地: 日本
关注度: 38 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
供应商性质区域代理产地类别进口
仪器种类台式/落地式能散型XRF价格范围100万-150万
行业专用类型通用
分析含量范围 1ppm~99.99%仪器种类 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
能量分辨率 130eV元素分析范围 11 (Na) ~ 92 (U)
重复性 0.1%
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       EA6000VX是一款结合精密光学系统,准确快速移动平台,微小准直器高端Vortex检测器和特殊滤波器的高端应用XRF检测设备。可应用于印刷电路板、太阳能电池之快速扫描成份分析、异物方析、膜厚测定。

特 点:

◆无需使用液态氧的高感度实现

◆超高速扫描(500点连续测定)及指定位置测试双重功能

◆多功能自动定位        ◆凹凸样品自动补正

◆超高解析样品图像      ◆高精度膜厚测定

◆微小异物查找          ◆透视扫描

1. 高速扫描测量
      通过结合了大幅提高的微小区域X射线莹光分析灵敏度和高速电动平台,能够快速获得二维扫描图像。特别是强化了对线路板中铅的扫描,配备了铅扫描专用滤波器。让1,000ppm以下无铅焊锡中的铅扫描变成简单可行。

 

2. 宽视野高清晰度光学系?

        可获得250mm x 200mm的20μm以下高清晰度的光学影像。以该光学影像可以直接精确指定测量位置,让操作性得到飞跃般的改善。此外,该光学影像可以和通过高速扫描获得的扫描图像进行重迭,可在大范围内进行高精度分析。

 

3. 微小区域中微量金属的高速测量

      实现了高密度微小X射线束以及配备的高计数率检测器,加上充分考虑到X射线莹光检测效率的设计,实现了高灵敏度化。微小区域中微量金属或薄膜都可在短时间内测量。即使是1mm x 1mm左右的微小区域也可以以100秒左右的速度测量其中的有害物质。

 

4. 无需液氮的高计数率检测器

      作为标准配置本公司独有的无需液氮的高计数率检测器,省去了繁琐的液氮补给程序。仅需数分钟的开机时间,同时电子冷却的规格具备了优异的可信性。运用的技术可以减少在液氮制造、搬运时产生的二氧化碳,以及提高测量速度后节省下的电力等,是一款考虑到环保问题的先进仪器。

 

5. 微小区域的镀层厚度测量

      可在十秒左右的时间完成对0.2mm x 0.2mm面积中Au/Ni/Cu(金/镍/铜)等薄膜多镀层的镀层厚度测量。此外,也可对无铅焊锡镀层或化学镍镀层中含有的微量铅进行分析。


基本规格

X射线发生部

照射方式

上部垂直照射方式

电压

最大50kV,多段电压切换


电流

4-1000μA,可做自动调整设定


准直器

4个,Φ0.2mm、Φ0.5mm、Φ1.2mm、Φ3mm (自动切换)


检测器

形式

Vortex硅半导体多阴极侦测器

冷却方式

电子冷却(不需要液态氮,也非冷冻机冷却)


一次滤波器

五种滤波器,6种模式可自动切换


样品观察

CCD监视器

高分辨率CCD彩色镜头 双系统

观察倍率

 多倍数自动切换-


照明

LED灯,无影灯设计影像无阴影


同轴观察系

视野:6×4mm

分辨率:20um

WD:5mm、15mm、25mm电动


广域观察系

视野:250×200mm

分辨率:20um以下


自动桌面功能

指定测量位置

在画面上利用鼠标完成X-Y-Z的坐标输入

设定测量位置

原点的坐标和画像保存以及位置偏差角度的修正


确认测量位置

图表表示测量位置


再测量功能

通过和测量位置的连动,可以进行再测量


样品台

250(W)x200(D)mm


移动量

最大580(W)x450(D)x150(H)mm


最大样品厚度

150mm


载重量

5kg


电源容量,接地

AC 100V±10% 15A 2系统 第3种接地


 

热门应用领域:


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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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