■ 即放即测：无需人工对焦造成误差，测量结果更可靠。

■ 测试速度快：3秒自动对焦，10秒钟完成50nm级极薄镀层的测量。

■ 无标样测量：与以往的技术相比，薄膜FP软件得到进一步扩充，即使没有标准品也能精确测量。

■ 多镀层测量：最多能够进行5层的多镀层样品测量。

■ 广域图像观察：能将样品图像放大5到7倍，并对测量部位精确定位。

■ 低成本：较以往机型价格降低了20%。

FT110A通过自动定位功能，仅需把样品放置到样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此，无需进行以往的手动逐次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。

同时，FT110A还配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置，另有机仓开放式机种，可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。低价位也是FT110A的特点，与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

膜厚仪作为可靠的品管工具，可针对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理，可保证产品的功能及质量，降低成本。

FT110A可降低成本如下：

■ 节省材料费
全球资源紧缺已是大势所趋，企业的材料费也是节节攀高；尤其是表面处理工作中所用到的贵金属更是一涨再涨，比如众如周知的黄金Au已从十几年前的百余元每克上涨到三百多元，以印刷电路板厂每年产量几十万套为例，根据业界经验如果能更好控制镀层厚度，企业每年可节约上千万的费用。

■ 减少工期(作业人工)
通过X射线仪来评价，管理产品可以轻松知晓产品能发挥最大功能时的最小镀层厚度，从而避免重复电镀造成的电费和人工费的流失。

■ 减少修理，修补等产生的制作费用
通过X射线仪可避免镀层不均或太薄造成的质量问题，以及后续的返工造成的费用。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途