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INSTEMS MET透射电子显微镜原位-原子尺度双倾力热电集成系统

采用独特的MEMS芯片设计和新颖的集成策略,克服了多场耦合的诸多兼容性难题,完美保存了TEM样品杆的双轴倾转功能。

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参考报价: 面议 型号: INSTEMS MET
品牌: 百实创 产地: 北京
关注度: 1 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
功能原位力/热/电
电流范围 0-2A电压范围0-150V
温度范围1200 ºC
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

INSTEMS系列为用户提供了7种原位TEM实验平台。其中包含三种单外场施加平台,三种双外场耦合平台和一种三外场耦合平台。三种单外场产品为INSTEMS-M(力学加载)、INSTEMS-E(电学加载)和INSTEMS-T(热场加载);三种双外场耦合产品为INSTEMS-ME(力电耦合)、INSTEMS-TE(热电耦合)和INSTEMS-MT(力热耦合);一种三外场耦合产品为INSTEMS-MET(力热电耦合)。

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产品介绍:

INSTEMS-MET采用独特的MEMS芯片设计和新颖的集成策略,克服了多场耦合的诸多兼容性难题,完美保存了TEM样品杆的双轴倾转功能。可以在TEM中向样品施加力、热、电三种外场,实现外场的灵活组合,原位观察材料原子尺寸微观结构变化。

该产品极大地拓宽了原位电子显微学的研究范畴,是科研工作者研究复杂力/热/电环境下材料的强大工具。

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突出优势:

1、灵活热/力/电场耦合

超宽加热范围 ( RT-1200 oC )    

超高加热精度( < 0.1 oC )  

牛顿级驱动器(> 100 mN)    

pm级驱动控制

多种加载模式

多种通电程序

pA级电学测量


2、双轴倾转

α 轴倾转最高至±25°     

β 轴倾转最高至±25°


3、稳定的原子尺度成像

极限样品漂移<50 pm/s

空间分辨率≤0.1 nm


技术优势:

Item

Parameter

mini-lab兼容性

MT/TE/ME/M/E/T

加热范围

RT up to 1200 ℃ *

加热准确性

≥98%

加热速率

>10000 °C/s

最大驱动力

> 100 mN

最大驱动位移

4 μm

驱动精度

< 500 pm

最大电压

± 50 V *

电流测量范围

1 pA-1 A

空间分辨率

≤0.1 nm

EDS兼容性


应用领域:

半导体

电池安全

器件失效

热电材料

……

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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