X-3680 贵金属检测仪
产品型号：x-3680
产品详情：
X-3680是一种体现X射线荧光分析技术zei新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。
仪器检测能力强，分辨率高，适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。无损分析迅速，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之一级别。
强势功能
1. 基本参数法对从铝（13号元素）至铀（92号元素）定性分析测量。
2．包裹样品检测辨别系统。
3．样品室高清成像定位系统，方便微小样品定位测量。
4．电制冷与内部双向循环冷却恒温系统相结合，维持内部工作环境稳定。
5. 内部动力学风道设计，快速排出多余热量。
6．双峰位快速自动校准。
7．双箱体结构，抗干扰能力强且方便硬件升级。
8．仪器工作方法任意开发。
9. 定量分析：包括经验系数法，理论a系数法和基本参数法。
10.定性分析：包括Kl谱线标记法，谱图比较法，光标自动寻峰等。
11.测试报表根据客户要求独立设计。
12.温度系数：温度变化1度，电压变化不超过0.01%
13.稳定性：经过半个小时预热后，每8小时变化不超过0.05%
14.准直器：使用特殊的滤波片自动更换，提高高能区的峰背比。
15.彩色液晶显示屏
16.自主研发的多功能数字集成新型放大器，提高降噪比。
整机技术规格
1．外型尺寸：600mm×530mm×330mm
2. 可测试样品大小：关仓测量：220mm×200mm×150mm
开仓测量：无限大
3. 仪器重量：50公斤
4．工作环境温度：0——35℃
5. 工作环境相对湿度：≤80%
6. 元素分析范围：铝（Al）——铀（U）
7. 含量分析范围：1PPM——99.999%
8．测量时间:10——180秒可调
9. 激发源：低功率X射线管
10．高压电源：美国Spellman原装进口高压电源
11．探测器：美国Amptek原装进口电制冷Si-Pin半导体探测器
12. 仪器分辨率：55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV
13．多道分析器：2048道
14．软件：基于WINDOWS的强大工作软件
15. 客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法
16．工作电源：交流 220V 50Hz
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
