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WinDENDRO年轮分析系统

参考报价: 面议 型号: WinDENDRO
品牌: 暂无 产地: 暂无
关注度: 27 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?
WinDENDRO年轮分析系统   
    WinDENDRO是利用高质量的图形扫描系统取代传统的摄象机系统。扫描系统能提供高分辨率的彩色图象和黑白图象。采用专门的照明系统去除了阴影和不均匀现象的影响,有效的保证了图象的质量。增大了扫描区域,以供分析。还可以读取TIFF标准格式的图象。
 
 

组成:
* WinDENDRO年轮分析软件(基本版 / 标准版 / 专业版)For Win9x,WinMe,Win2000,WinXP
* XLSTEM茎杆分析插件(For MS-EXCEL)可选件
* 专业扫描仪
* 电脑(zei低配置:Pentium III / 64 MB内存 / 17"显示器)用户自备
* 生长锥定位工具

技术指标:

特点 WinDENDRO版本
基本版 标准版 专业版
水平、垂直方向测量年轮 Yes Yes Yes
延直线方向测量年轮(单节) Yes Yes Yes
年轮宽度测量 Yes Yes Yes
自动年轮监测方式(强度不同) Yes Yes Yes
通过扫描测量年轮 Yes Yes Yes
判断无效的年轮 Yes Yes Yes
图象对比度增强功能 Yes Yes Yes
彩色和黑白可调 Yes Yes Yes
测量年轮宽度时计算年轮角度 Yes Yes Yes
当样品有缺陷时,估算丢失的年轮 No Yes Yes
以各种方向测量年轮 No Yes Yes
测量复杂形状样品的年轮(多节) No Yes Yes
年轮宽度、十字交叉图象及相关性 No Yes Yes
幼苗宽度测量 No Yes Yes
用户可调节智能幼苗清晰度 No Yes Yes
每环的反射光测量(zei小值、zei大值、平均值、方向) No Yes Yes
基于象素的数据 No Yes Yes
存储年轮宽度以"树心-边缘"/"边缘-树心" Yes/No Yes/Yes Yes/Yes
存储zei后部分年轮 No Yes Yes
忽略缺口部分 No Yes Yes
讲述& 演示年轮自动监测算法 No Yes Yes
针对年轮增加注释或观察资料 No Yes Yes
可自定义设置一些参数(例如:名字,类型等) No Yes Yes
可以测量其他设备采集到的图象(如:摄象机等) No Yes Yes
手工测量图象的边材宽度 No Yes Yes
年轮密度测量(zei小值,zei大值,平均值,方向) No No Yes

产  地:
Regent  加拿大
 

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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