仪器简介：美国NANOVEA公司的三维非接触式表面形貌仪 三维光学轮廓仪(3D Profiling) 该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光......
仪器简介：该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米......
仪器简介：该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米......
仪器简介：NANOVEA的表面测量系统适用于研发和生产过程控制中的定性和定量测量，测量分辨率达到纳米级，其强大且友好的软件控制使所需获得的数据不仅速度快，而且......
该仪器采用白光轴向色差原理（性能优于白光干涉轮廓仪与激光干涉轮廓仪）对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量，测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形......
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