bruker纳米压痕仪Hysitron PI 89

 Hysitron PI 89 扫描电镜联用纳米压痕仪利用扫描电子显微镜（SEM、FIB/SEM）的卓越成像能力，可以在成像的同时进行定量纳米力学测试。这套全新系统搭载 Bruker的电容传感技术，继承了引领市场的一批商业化原位 SEM 纳米力学平台的优良功能。该系统可实现包括纳米压痕、拉伸、微柱压缩、微球压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和力学性能成像等功能。

特点

独有的可互换传感技术，实现了更大范围(10mNx500 mN、3.5N和150μ.m)的原位纳米力学测试和微尺度力学测试

独有的载荷和位移控制测试模式,可进行纳米压痕、压缩、 拉伸、疲劳或弯曲测试

采用全新编码样品台技术(1 nm分辨率)，可以在纳米晶粒 内部进行压痕操作

提供旋转/倾斜台两种配置，从而在进行纳米力学测试、二次电子成像、原位FIB加工和分析成像等操作时，样品定位能力进一步提高

采用永不过时的模块化设计,原位测试相关技术得以不断升级，包括800℃加热、划痕测试、电特性、扫描探针显微镜 (SPM)成像、力学性能成像(XPM)及动态疲劳测试等技术

配备PerformechII先进控制模块，反馈频率达到78 kHz, 数据采集频率达到39 kHz,可以捕捉断裂引发等瞬时事件

功能齐全

Hysitron PI 89可以轻松安装到扫描电子显微镜台上,不需 要一直固定在显微镜上。其设计小巧，大幅增加物台倾斜 度、缩短工作距离,确保测试期间实现佳成像。

PI89平台经过改装，在系统的样品位置增加了一个滑移台。该设计可方便快速地调整样品相对于传感器的位置,并可配置可更换压头、样品和其它附加装置。

同时扩大了可用空间，可以容纳更大的样品、附加样品台和新的配件。

此外,选用新的直线编码样品台,可以提高自动运动中的 重复性，同时扩大行程范围。通过重新设计机械载荷架轴，提升了框架刚度。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途