布鲁克三维光学表面测量系统GT-X

 Bruker GT-X型三维光学表面测量系统是Bruker 公司三维光学显微镜Contour系列中的旗舰产品。具备全自动、大样品测试能力的GT-X是目前市场上大视场、垂直分辨率高、可定标的计量式表面测试系统。从基本概念设计开始，GT-X就是为满足目前具挑战性的测量需求，如产品研发、质量保证和工艺监控等各种苛刻要求，而打造的。下面是Bruker GT-X产品的独特技术优势：

1. 计量准确性和测试灵活性的标杆

• 高亮度长寿命双LED照明光源的独有计量传感设计，确保测量各种不同反射率样品时均能获得准确有效数据。

• 计量式优化激光自校准的独有设计，保证每一次测量过程中，高度数据都准确、有据可依。长期使用时无需担心设备出现偏差，也不再需要通过人工进行标样校准。

• 配合精密扫描头部设计，整体大理石成型的落地式集成防震系统，确保设备测量时杰出的测试数据重复性和长期使用时优异的可靠性。

2. 高效、快速的纳米级测量结果

• 全自动测量功能集于一身，包括高速自动聚焦、自动亮度调整、自动扫描头倾斜优化、自动样品台编程、自动放大镜选择等。

• 在大起伏表面仍能得到纳米分辨，其RMS重复性高达0.004 nm。

3. 强大的测量与分析功能

• 可定制的模块化可视操作软件界面，包含用于实验室的工程师界面或工厂的生产界面。

• 实时的自动优化测量和三十多年积累的丰富数据分析功能：用户通过引导界面，轻松实现对所需测量样品位置、测量参数、结果分析和数据输出等的设定，编写测试和分析程序后，可自动实现批量样品多点测试和大面积范围扫描等。还可以在数据库中设定规格控制标准自动对合格/不合格产品甄别。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途