DiaInspect-ISE表面交互式磨损分析系统

DiaInspect-ISE表面交互式磨损分析系统

刀具表面磨损分析测量仪

DiaInspect-ISE是一个工具表面交互式磨损分析系统。（例如烧结段或锯珠）该系统使用光学扫描显微镜的硬件。

主要特点：

●可自由选择的磨损分类

●自动存储每个粒子的真实坐标（例如烧结段或锯条）。。

●真实粒子、图像和被测参数之间的交互连接

●高放大图像的存储

●具有多聚焦功能的深聚焦图像

●曲面和三维扫描模式

●突出高度的简易测量

●EXCEL结果表

DiaInspect ISE是一个用于交互评估刀具表面磨损的系统。它基于光学扫描显微镜DiaInspect.OSM的硬件。它适合分析分段或线锯珠的磨损表面。

硬件：

该系统基于具有5个放大步骤的特殊显微镜、四个数字控制LED光源和高质量数字工业摄像机。该显微镜配备有电机驱动的聚焦和电机驱动的XY-台。可连接旋转轴检查珠子。所有轴均由操纵杆控制或直接通过控制程序。摄像头通过USB3连接到PC和图像处理软件。

软件：

软件分两步指导用户分析刀具表面。在一步中，创建刀段或焊道表面的概览图像。在二步中，用户在概览中定位磨粒

图像，以更高的放大倍数显示，用于交互式分类。EXCEL格式的数据库存储研磨点的坐标和分类。

操作原则：

DiaInspect.ISE有效地支持工具表面上所有研磨点的位置和磨损阶段的交互式收集。概览图像用于查找颗粒，然后通过显微镜的电机自动定位在相机图像中。可以高分辨率和高分辨率检查研磨点高聚焦深度。该程序用彩色边框标记已检查的研磨点。

特色：

1. 可定义的磨损分类

2. 保存研磨点的坐标

3. 高倍率图像可能与研磨点有关

4. 堆叠的焦点图像可以与研磨点相关联

5. 突出高度测量

6. EXCEL结果文件

技术数据：

电源：110-230伏交流电。

系统要求：

PC Windows 7 x64或Windows 8 x64

所需资源：1x USB 3.0端口；1x USB 2.0

CPU-CORES：>=2

CPU-CLOCK：>=2GHZ

内存：8GB

监视器：2x>=22英寸（>=1680x1050）

机械参数：

焦距：20毫米

X行程：76毫米

Y行程：50毫米

旋转：360°

特殊功能：

带有三轴操纵杆的灵敏运动控制

操纵手柄X轴到X驱动或旋转的自动布线

驾驶取决于操作模式（分段或胎圈）

易于安装的旋转驱动装置，带有磁珠支架

灵活的数字控制照明：

-用于宏观光学的环形光

-所有镜头的背光

-机头透镜的同轴照明

-伪暗场照明

测量功能：

-图像中的线条长度

-图像中两条线之间的角度

-两个焦点位置之间的高度差

-图像外两点之间的距离限制成像功能：

-将实际相机图像保存为JPG、BMP、TIF

-保存多焦点图像（曲面、高度贴图、组合视图）

-在图像中自动插入标尺

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途