AF 200微型自动聚焦激光测量系统

德国BMT公司生产的AF200自聚焦测头系统，可替代现有传统的位移和粗糙度测头。实现快速非接触测量表面形貌，粗糙度以及精密位移。

激光测量光束借助于物镜聚焦于物体表面，物镜的位置连续可调，激光束的焦点总是与物体表面重合，可同时测量表面轮廓和局域反射光。

AFS传感器具有表面复现度高的特点，传感器可配备微型照相机适配器，以便能够直接通过物镜对表面片段直接观察，使激光光束精密定位。特别开发、高度集成的BMT-IC技术，传感器热漂移极低。高倍率孔径物镜，保证仪器无论在垂直方向还是在水平方向均能提供较高的分辨率。
主要用途： 

◆  具有完整表面复现的表面粗糙度和轮廓测量

◆  精密位移测量

◆  微机械零件的尺寸测量

◆  金相测量

◆  振动测量

◆  厚度测量

◆  微小区域内直线度、平面度、园弧半径的测量（如转位刀片刃口、金刚石刀具）  

主要特点：

◆  非接触式表面轮廓测量、反射率的测量、垂直和横向的尺寸测量

◆  BMT-IC专利技术传感器

◆  微型化的传感器

◆  分辨率1nm

◆  测量范围2000μm

◆  光斑直径< 1μm

◆  适用于制造业所有粗糙度测量

◆  连续变焦    

主要优点：

◆  在高保真轮廓复现下对3D结构进行快速的非接触式测量                

◆  测量结果与表面结构无关    

◆  数据采集和评估可归并到已有的软件中

◆  具有可组装性，可组装到已有的系统中   

技术数据： 

德国BMT AF200自聚焦测头系统信息由上海昊扩科技发展有限公司为您提供，如您想了解更多关于德国BMT AF200自聚焦测头系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途