业内最好的半导体/FPD检查显微镜，没有之一。

    LEICA INM100自动芯片分析显微镜配备其配套的控制器、摄像头，软件，PRIOR纳米平台集成了整个Imaging System。

　　是对深亚微米工艺芯片进行连续性、大面积的微观图片信息采集的最佳工具。

　　使用方法：

　　① 将试样芯片置于直线刻度自动纳米平台上，试样芯片与电动平台之间的位置关系是相对固定的

　　② 设定显微镜的放大倍数，一边通过目镜观察，一边调节电动台控制器的操纵杆和转钮，使显微镜的物镜对准试样的某一微观区域（一般是试样的最边缘）

　　③ 试样芯片通过显微镜所成的像由CCD采集

　　④ CCD控制器将CCD所采集到的图片信息进行数/模之间的转换

　　⑤ CCD控制器处理过的信号在计算机的显示器上显示出来，在图像达到满意的效果之后，操纵拍摄控制软件，便将该图像保存在计算机中

　　⑥ 第一张图像保存后，由于电动台控制器具有设定的程序，控制器会控制电动平台自动移动至下一相邻的微观区域（逐行或逐列，两微观区域共一边界），从而使计算机的显示器上呈现第二个微观区域的图像信息。由于处理过的芯片的表面并不平坦，且放大倍数较高，可能造成显示器上图像并不清晰，此时可以通过调节电动台控制器来调节显微镜的焦距，直至获取该微观区域清晰的图像。拍摄第三个微观区域…第四个…整个芯片拍摄完毕。

最新版本的自动芯片拍照软件可以同时处理上万张照片的拍摄，自动拼接合成功能，并可以将上万张照片的合成照片显示在计算机屏幕上，解决了海量照片无法显示的难题。为全面深入地分析芯片提供了最佳的工具。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途