理学 X射线衍射仪SmartLab系列 智能

一、仪器介绍
智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。
二、技术参数
1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶
2、测角仪为水平测角仪
3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）
4、测角仪配程序式可变狭缝
5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）
6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）
7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)
8、多用途薄膜测试组件
9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件
10、In-Plane测试组件（理学独有）
11、入射端Ka1光学组件
12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）
13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)
14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）
三、主要特点
智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
四、主要的应用有
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途