原理: 高能激光把样品激发为气体, 气体进入分析的光学系统得到低浓度元素含量(低ppm级别)!
 
提供: 样品表面的二维(X-Y)元素分布和元素的深度(Z)分布.
 
优点: 检测范围广, 不需要样品前处理. 样品是固体就可以.
 
如果你正在使用XRF, AA, ICP, 你就可以考虑这先进的技术. 这就是美国宇航局在火星使用的技术.
 
快速，简单，直接分析: 全新设计的工业级元素分析系统可分析从氢（H）到铀（U）的元素，包括那些使用XRF（X射线荧光）和其它方法不能准确分析的轻元素在内。此外，它不需专业的大师级高级技术人员操作它–普通的技术员就可快速，简单地对其地进行校准和测量，并生成所需的分析报告。使用LIBS，无需进行一些耗时的样品前处理（如消解等），可以直接对样品进行分析。
技术简介: 该元素系统仪采用基于LIBS（激光诱导击穿光谱）技术的原理。其中高功率激光在待分析材料表面可产生明亮的火花（或等离子体），然后，携带样品信号的光被独特的光谱仪和检测系统检测。元素的荧光直接与待分析材料的元素浓度相关。与其它元素分析的技术相比，LIBS所具有的超强分析性能优势相当明显。特别是，它对材料中存在的绝大多数元素（包括一些其它技术不能检测的重要低原子序数元素如氢和碳）都相当灵敏。由于几乎无需进行样品前处理，从而使分析效率显著提高，大大降低了分析成本。可以同时检测所有元素的浓度，分析时间约20秒，这与其它分析技术相比，具有显著优势。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途