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| 参考报价： | 面议 | 型号： | ZEM-5 |
| 品牌： | 爱发科 | 产地： | 日本 |
| 关注度： | 8 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 产地类别 | 进口 | 供应商性质 | 总代理 |
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热电性能分析系统 ZEM-5
说明：此产品售前技术交流服务和售后技术服务由北京柯锐欧科技负责，确保国内用户享受到最专业的技术支持！
技术特点：
适用于研究开发各种热电材料和薄膜材料，提高测量精度
温度检测采用C型热电偶，最适合测量Si系列热电材料(SiGe, MgSi等) *HT型
真正可测基板上的纳米级薄膜（TF型）
最大可测10MΩ高电阻材料
标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表
基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2)
ZEM-5HT | ZEM-5HR | ZEM-5LT | ZEM-5TF | |
特 点 | 高温型 | 高电阻型 最大电阻：10MΩ | 低中温型 | 薄膜型 可测在基板上形成的热电薄膜 |
温度范围 | RT-1200℃ | RT-800℃ | -150℃-200℃ | RT-500℃ |
样品尺寸 | 直径或正方形：2 to 4 mm2 ； 长度3 ～ 15mm | 成膜基板：宽2-4mm，厚0.4-12mm，长20mm 薄膜厚度：≥nm量级 薄膜样品与基板要求绝缘 | ||
控温精度 | ±0.5K | |||
测量精度 | 塞贝克系数：＜±７％； 电阻系数：＜±７％ | |||
测量原理 | 塞贝克系数：静态直流电； 电阻系数：四端法 | |||
测量范围 | 塞贝克系数：0.5μV/K_25V/K； 电阻系数：0.2Ohm-2.5KOhm/10MΩ | |||
分辨率 | 塞贝克系数：10nV/K； 电阻系数：10nOhm | |||
气 氛 | 减压Ｈｅ |
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
