日立荧光分布成像系统

产品创新点
上市时间：2019年10月
创新点主要有两个方面：硬件方面：全球首创将将荧光分光度计与CMOS相机结合在一起，能够同时观察样品光谱和图像的技术。软件方面：运用了智能光谱算法，可以获取样品任意区域的光谱信息。常规的荧光分光光度计测得的是样品表面信息平均化的信号，得到的是一条荧光光谱，这个新的系统能够对样品表面进行分区，从而获得不同区域的光谱信号，使得光谱信息细致化了。

产品简介

1.  荧光分布成像系统（EEM View）简介

作为荧光分光光度计的配件系统，这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合，融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。

新型荧光分布成像系统可安装到F-7100荧光分光光度计的样品仓内。入射 光经过积分球的漫反射后均匀照射到样品，利用F-7100标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，结合积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用独特的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光图像。

2.  荧光分布成像系统特点：
①测定样品的光谱数据（反射光、荧光特性）
②在不同光源条件下（白光和单色光）拍摄图像（区域：Φ20mm、空间分辨率：0.1 mm左右、波长范围：360-700nm）
③利用自主研发的分析系统1)，分开显示荧光图像和反射图像
④根据图像可获得不同区域的光谱信息（荧光光谱、反射光谱）

 国立信息学研究所 佐藤IMARI 教授?郑银强副教授共同研究成果
荧光分布成像系统软件分析（EEM View Analysis）界面(样品：LED电路板)

 

样品安装简单，适用于各种样品测试
样品只需摆放到积分球上，安装十分简单！
丰富的样品支架

支持精确测量的校正工具

 

总结
以上为荧光分布成像系统的特点和功能结束，这是一种全新的技术，将它配置到荧光分光光度计中，改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状，可以查看样品图像任意区域的光谱信息，十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途