HORIBA SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析，zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定。SZ-100的典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。 

颗粒分析仪采用动态光散射原理（DLS）。根据样品的物理性质，动态测量范围为0.3 nm – 8 µm。检测范围的下限受到以下因素的影响：样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响，因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降。

SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池，通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位。 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多，斥力较大，较难发生团聚，溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地，发现zeta电位为零时（就是说，样品处于等电点），就要考虑选择最佳条件将颗粒进行絮凝和分离。

SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液，然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线，从而计算出Mw和A2。

特征

将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一身

宽检测范围，宽浓度范围

双光路双角度粒径测量（90° 和173°）

多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射光

用于粒径和zeta电位检测的微量样品池

自动滴定仪：可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途