高频(微波)介电常数测试仪

仪器简介：

日本AET微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-Studio^TM，测量材料的高频介电常数，此方法保证了介电常数测量结果的精确性。 
AET公司开发了二种共振腔：空洞共振腔和开放式同轴共振腔用于测试环境腔。

技术参数：

频率范围：1G~20GHz 

同轴共振腔： 
介电常数Epsilon：1~15，准确度：+/-1%， 
介电损耗tangent delta：0.05~0.0001，准确度：+/-5%

主要特点：

空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 
印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 
日本AET 公司针对CCL/印刷电路板设计空洞共振腔测试装置 , 只需裁成小长条状即可量测精确的复介电常数(Dk), 尤其是低损耗(Df)的样品, 测量值非常精准。 

用于介电常数测试仪，介电常数分析，介电损耗测试，高频介电常数测量。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途