赛默飞电子显微镜(原FEI)
400-6699-117转1000

分析测试百科网 认证会员,请放心拨打!

分析测试百科网 > 赛默飞(原FEI) >  DualBeam (FIB-SEM) 仪器
Helios
Helios 5 PFIB DualBeam无镓 STEM 和 TEM 样品制备多模式亚表面和 3D 信息新一代 2.5 μA 氙气电浆 FIB 色谱柱Heli......
Helios
Helios 5 DualBeam全自动、高质量、超薄 TEM 样品制备高通量、高分辨率的亚表面和 3D 表征快速纳米原型设计能力Helios 5 DualBe......
Helios
Helios Hydra DualBeam4 个快速切换离子种类(Xe、Ar、O、N),用于对种类最丰富的材料进行优化 PFIB 处理Ga-free TEM 样......
Helios
对高性能、高能效电子产品的需求正在推动具有更小、更密集的功能和复杂的3D结构的先进设备的发展。这些尖端微处理器、存储器件和其他产品的产能生产极具挑战性,需要对深......
赛默飞(原FEI)Aquilos
第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Bea......
移动版: 资讯 直播 仪器谱

Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号