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诚信认证:
工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | GeminiSEM |
品牌: | 创诚致佳 | 产地: | 德国 |
关注度: | 暂无 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 |
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蔡司Gemini技术优势能为您提供以下便利:
经校准后的镜筒具有长期的稳定性,您在日常使用时只需要简易地设定基本的参数,如加速电压、探针电流等;
无漏磁的物镜设计,可对包括磁性样品在内的各类型样品进行无畸变、高分辨率的成像;
Inlens二次电子探测器具有高效的SE1信号采集效率,给您呈现来自样品极表面的真实形貌图像;
镜筒内能量过滤背散射探测器以其创新的设计理念,使您在低电压下可获得高分辨率、高衬度、以及更真实的样品材料衬度图像。
Gemini1类型镜筒-延续创新和发展如今,扫描电子显微镜(SEM)在低电压下的高分辨成像能力,已成为其在各项应用领域中的标准配置。低电压下的高分辨率成像能力,在以下应用领域中扮演着尤为重要的角色:电子束敏感样品不导电样品获取样品极表面的真实形貌信息 Gemini的革新电子光学设计,应用高分辨率电子枪模式、Nano-twinlens物镜(GeminiSEM500)、以及Tandemdecel样品台减速技术(选配),有效提高了在低电压时的信号采集效率和图像衬度。
Gemini2类型镜筒-出色的综合性能,为您所欲为要实现对任意样品都能进行高质量的测试和表征,扫描电子显微镜必须在成像和分析方面都具备优异的性能,同时能给用户简单易用的操作体验。如今,Gemini2镜筒可满足您在这些方面的各种需求:GeminiSEM450配置双聚光镜的Gemini2类型电子光学镜筒;
在确保获得出色的小电子束斑的同时,束流连续可调;
可在低束流的高分辨率成像与高束流的分析模式之间进行无缝切换;
调整工作参数后无需对电子束进行重新校准,为您节约时间,提高仪器效率;
操作灵活易用,高电子束能量密度下的高分辨率成像,低束流分析,高束流分析等各类不同的工作模式,一切由您而定;
物镜无漏磁设计,在大视野范围成像和EBSD分析中不会引起畸变,确保获得样品高质量的图像;
出色、稳定的电子光学镜筒,对各种类型的样品都能简单快速的进行高分辨率成像,即使在使用中样品需要倾斜,甚至是对磁性样品进行成像;
P搭载局部电荷中和器或NanoVP可变压力模式,有效地消除样品的表面荷电,让您在出色参数下对样品进行成像和分析。
NanoVP可变压力模式-更丰富的细节,更灵活的适用性NanoVP可变压力模式技术,为您提供对不导电样品成像*的解决方案,更大程度地发挥镜筒内Inlens探测器高性能和高分辨率的优异性能:
消除不导电样品的表面荷电现象;
NanoVP可变压力技术有效地减小电子束展宽,确保在可变压力模式中发挥镜筒内Inlens探测器的优异性能,获得高分辨率的图像,可变压力范围可高达150Pa;
因此,即使是在可变压力模式下,镜筒内Inlens二次电子探测器和EsB背散射探测器仍可同时成像,助您获得样品极表面的高分辨形貌图像和更高衬度的背散射图像;
样品室内同时搭载VPSE探测器,可对要求更为苛刻的样品在高达500Pa的压力下进行高质量成像。
场发射扫描电子显微镜技术参数型号GeminiSEM500 GeminiSEM450GeminiSEM300
热场发射电子枪,稳定性优于0.2%/h
加速电压0.02-30kV
探针电流3pA-20nA3pA-40nA3pA-20nA(100nA配置可选)(100nA或300nA配置可选)(100nA配置可选)
存储分辨率*高达32k×24k像素
放大倍率50–2,000,00012–2,000,00012–2,000,000
标配探测器镜筒内Inlens二次电子探测器
样品室内的EverhartThornley二次电子探测器
可选配的项目镜筒内能量选择背散射探测器-角度选择背散射探测器
角度选择背散射探测器
环形STEM探测器(aSTEM4)
EDS能谱仪
EBSD探测器(背散射电子衍射)
NanoVP可变压力模式
高效VPSE探测器(包含在NanoVP可变压力选件中)
局部电荷中和器
可订制特殊功能样品台
环形背散射电子探测器
阴极射线荧光探测器
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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途