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诚信认证:
工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | QUANTAX Xtrace |
品牌: | 布鲁克 | 产地: | 德国 |
关注度: | 903 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
价格范围 | 20万-50万 |
仪器种类 | XRF高速(大面积) X 射线元素面分析 |
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微区 XRF 是 SEM 中 EDS 分析的互补分析技术
扫描电子显微镜 (SEM)的微区 X 射线荧光 (Micro-XRF) 技术是与传统能量分散光谱 (EDS)能力补充的无损分析技术。这种分析技术对于未知样品中元素成分的表征非常重要,而未知样品的尺寸可以从厘米尺寸的不均匀样品到微米尺寸的颗粒
X射线激发源为微量元素的检测带来了更高的灵敏度(对于某些元素,检出限可低至 10ppm)。同时,光谱范围可以拓延(高达40 keV)以及探测深度可以更深
配备 X 射线管,结合微聚焦 X 射线光学器件,可产生 30 μm 的小束斑和高强度通量
模块化基于压电的样品台,专门设计用于安装在现有SEM 样品台上,使大面积高速元素X射线面分析"飞一样地"运行, 速度高达4毫米/秒。这使得在 50 x 50 mm(或更大)的样本面积上采集 X 射线面分布数据成为可能。同时,轻元素光谱数据以及微量元素和/或更高能量的 X 射线数据也纳入快速且用户友好的工作流中
X射线激发的样品深度更深,这让多层系统的表征成为可能。1 nm 到 高达40μm 的薄膜样品均可以分析,而这是用电子束源激发无法实现的
SEM用micro-XRF 微区X射线荧光光谱仪信息由布鲁克(北京)科技有限公司-纳米分析仪器为您提供,如您想了解更多关于SEM用micro-XRF 微区X射线荧光光谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途