400-6699-117转1000
咨询列表
西凡仪器（深圳）有限公司
您好，欢迎您查看分析测试百科网，请问有什么帮助您的？
分析测试百科网 认证会员，请放心拨打！
诚信认证:
工商注册信息已核实！
扫一扫即可访问手机版展台
| 参考报价： | 面议 | 型号： | XF-P1 |
| 品牌： | 西凡仪器 | 产地： | 广东 |
| 关注度： | 暂无 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 供应商性质 | 生产商 | 产地类别 | 国产 |
400-6699-117转1000
XF-P1是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款镀层测厚仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器，内置工控电脑，运行Smart FP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
西凡镀层测厚仪XF-P1产品特点
元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)
可支持四层检测
可同时支持镀层厚度和成分检测
检出限：5nm(厚度)，5ppm(成分)
检测精度：相对误差±2.5%(1um厚度）
定制TCP/IP协议API接口，支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集
遵守GB/T16921, ISO3497:2000, ASTM-B658标准。
铅玻璃窗口，方便观察样品
西凡镀层测厚仪XF-P1信息由西凡仪器（深圳）有限公司为您提供，如您想了解更多关于西凡镀层测厚仪XF-P1报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
