菲希尔膜厚仪

德国菲希尔XDL X－RAY光谱膜厚仪，是发展继承其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列，其非破坏式的测量，特别适合五金的金属镀层厚度，测量快速、精确、无损.如一些五金零件、电路板及测量电镀槽中的金离子的含量。菲希尔XDL X－RAY光谱膜厚仪，采用了高次数率的比例接收器，可以在没有标准片的情况下，对金属五金件的镀层厚度及电镀液中的离子含量做出精确的测量，另外在WINFTM BASIC 软件的支持下，可测量多至24元素，这是其他品牌所不能的。菲希尔XDL X－RAY光谱膜厚仪的长期稳定性是十分高的，这使仪器减少校正所需要的时间及次数，便于管理仪器，并提高生产效率.应用范围广泛，包括了测量大量的电镀五金件、检查薄膜层（如：装饰性铬的镀层）、在电子及半导体行业中分析其功能性的镀层、可用于电路板测量、电镀槽中的药水成份分析,已成为被广泛应用的自动测定涂镀层厚度的专用仪器。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途