一六 XAD-200高端全自动型膜厚仪

XAD-200是一款全元素上照式荧光光谱仪，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能，又可满足RoHS有害元素检测及成分分析，搭载全自动平台实现XYZ轴编程位移，实现无人值守多点测量，测量软件置入先进的EFP算法及解谱技术，解决了诸多业界难题。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统，最小测量面积达0.03mm²

拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm

核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析（钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度）

配备全自动可编程移动平台，可实现无人值守，对成百上千个样品进行全自动检测

涂镀层分析范围：锂Li（3）- 铀U（92）

成分分析范围：铝Al（13）- 铀U（92）

RoHS、卤素有害元素检测

人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作

标配四准直器自动切换

配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度小于10%

XAD-200广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、航天航空、环保行业、汽车行业、卫浴行业、精密电子等

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途