江苏一六XAU专业性能型膜厚仪_涂镀层测厚仪_膜厚测试仪_光谱测厚仪

XAU专业性能型膜厚仪_涂镀层测厚仪_膜厚测试仪_光谱测厚仪

全面升级下照式探测器款，多模态人机交互，搭载先进的EFP算法软件同时升级成新一代微纳米芯片及元器件，在检测多层合金、上下元素重复镀层及渗层时更加精准、稳定。

XAU是一款专业性能型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪，全面升级下照式探测器，多模态人机交互，搭载先进的EFP算法软件同时升级成新一代微纳米芯片及元器件，在检测多层合金、上下元素重复镀层及渗层时更加精准、稳定。

高性能探测器：搭配高性能探测器，在检测多层合金、上下元素重复镀层及渗层时更加精准、稳定

变焦装置及位置补偿算法：可对各种异性凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm

自主研发EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精确测量

高集成光路系统：搭配微聚焦一体的高集成垂直光路交换装置

先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限

XAU广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途