GW-4040型XRF岩屑元素分析仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。将Ｘ射线荧光分析（ＸＲＦ）用于岩屑录井是目前岩屑分析中最快速最便捷的技术，这项技术的独到之处在于：能过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位．因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。

• 测量内容：Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等

• 使用用途：油气开采过程中的岩屑录井检测

产品特点

• 性能

  高性能
  优选进口X射线管以及高性能探测器，确保长期的稳定性以及准确度。
  快响应
  相对于传统的实验室化验等方式，光学检测手段可以一秒内可以进行多次检测。
  长寿命
  无需耗材，寿命最长可达5-8年，综合使用成本更低。

• 便携性

  相对于传统类的实验室设备，我们的光学设备无需任何耗材以及辅助设备，方便在作业现场进行便携使用。
  为了更好的让客户在野外操作，设备还需抗震和牢固，我们首先给设备配备了拉杆式铝合金包装箱，让运输更安全。
  其次整体光路模块采用整体不锈钢CNC一体加工，从来稳定性牢固性更好。

• 准确性

  仪器集成了管压检测、温度检测，实时监控腔内的真空压力和温度，确保检测的精度。
  真空腔内置过滤隔离装置，仿制待测体的灰尘进入探测器探头和射线管端子，导致污染损坏。
  内置步进电机使样品环在检测过程中始终处于旋转状态，提供检测的准确度。

技术指标

*具体量程可能会有细微偏差。

*工作在温度25℃和1013mbar测试数据。

技术原理

• 技术原理

  利用初级X射线光子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量可以对元素进行定性的分析；同时样品受激发以后发射某一元素的特征X射线强度跟元素在样品中的含量有关，因此可以对元素进行定量分析。

• 光学结构

  分析仪由如下光学技术平台构成，该技术平台由X射线管、真空仓、探测器等光学组件构成。X射线管发出的光直接照射在待测样品，激发待测物质中的原子，使之产生荧光，被探测器接收。通过对荧光谱线进行分析，可以分析出待测样品中的元素成分和含量。

• 金属元素的光谱

  不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。

• 岩屑成分

  可一次性实现多达十几种元素的快速、无损、准确分析。
  自动稳谱，消除谱峰水可载舟漂移影响，精确度达98%以上。
  集成大量数据库，并实时更新，目前可以识别岩屑成分多达上百种。
  

应用领域GW-4040型XRF岩屑元素分析仪，是本公司针对石油气、天然气、煤层气、页岩气等清洁能源的开采而专门开发的高精度光学岩屑元素分析仪。可以很好的解决人工判断的误差性，以及传统设备的不便捷性，更好了为测录井提供原始数据。该设备小巧无辅助设备，目前在油田得到广大客户的使用。
产品主要用于以下场合：
● 油气钻井岩屑录井；
● 物探岩石检测等。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途