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北京先锋泰坦科技有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | ZL-ISS |
| 品牌： | 卓立汉光 | 产地： | 北京 |
| 关注度： | 452 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 |
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目前市面主流的OLED 屏幕手机普遍存在烧屏现象，众所周知，烧屏现象是一个长期累积的过程，所以终端厂商普遍要求屏厂提供短期的残影测试报告，以便能够管控OLED 屏幕的品质，降低烧屏现象；
ZL-ISS 是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统，采用高灵敏度的快速亮度计，实现高效表征屏幕的残影现象；
主要功能
• 短期残影测试；
• 亮度均匀性测试；
• 屏幕长期稳定性测试
软件界面
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技术规格参数 |
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亮度范围 |
0.0001 to 100000cd/m2 |
亮度精度 |
±3%*1 |
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像素 |
1900*1200 |
采样速率 |
≥1fps*2 |
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镜头 |
24mm,28mm,35mm,50mm 可选 |
工作距离 |
＞ 350mm |
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空间分辨率 |
0.12mm*3 |
PG |
可支持市面主流厂商 PG |
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样品最大尺寸 |
190mmX110mm*3 |
样品类型 |
手机屏 \ 模组 |
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稳定性 |
<0.5% |
Pattern |
客户可自定义 Pattern |
*1:A 光源条件下测试精度；*2: 曝光时间<200ms; *3: 测试条件为28mm 镜头，工作距离为500mm
探头稳定性曲线
某国产手机屏幕短期残影曲线
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
