天光测控ACT1200晶体管动态特性测试系统

产品名称：ACT1200晶体管动态特性测试系统

产品介绍：

    ACT1200 型晶体管动态特性测试系统，是一款主要面向“单管级器件”用户服务的测试设备，可实现对 Si 基及 SiC/GaN（选配）材 料的 IGBT、MOS-FET、Diode、BJT 的多种动态参数的精确测试，测试原 理符合国军标。 

    能够测试测试的参数包括开通时间、关断时间、上升时间、下降时间、导通延迟时间、关断延 迟时间、开通损耗、关断损耗、栅极总 电荷、栅源充电电量、平台电压、反向恢复时间、反向恢复 充电电量、反向恢复电流、反向恢复损耗、反向恢复电流变化率、反向恢复电 压变化率、输入电容、输出电容、反向转移电容、短路等等。 

    通过更换不同测试单元（简称 DUT）以达到对应的测试项目，通过软件切换可以选择测试单元、测试项目及配置测试参数、 读取保存 测试结果。系统集成度高，性能稳定，具有升级扩展潜能和良好的人机交互。 

    该测试系统是由我公司技术团队结合半导体功率器件测试的多年经验，以及众多国内外测试系统产品的熟悉了解后，完全自主开发设计 的全新一代“晶体管动态特性手动测试平台”。软件及硬件均由团队自主完成。这就决定了这款产品的功能性和可靠性以及扩展性能够得到 持续完善和不断的提升。为从事功率半导体产业的测试用户奉上一款优秀产品

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途