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诚信认证:
工商注册信息已核实!参考报价: | 310000 RMB(人民币) | 型号: | NX2000 |
品牌: | 日立 | 产地: | 日本 |
关注度: | 27 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
供应商性质 | 一般经销商 | 产地类别 | 进口 |
价格范围 | 100万-200万 | ||
成色: | 翻新二手 | 新机参考价: | 510000RMB(人民币) |
质保: | 质保半年 | 维修服务: | 第三方提供 |
是否提供计量认证服务: | 否 | 仪器状态: | 无故障运行 |
仪器来源: | 厂商 | 仪器所在地: | 广东省 |
现场安装费用: | 免费 | 是否租赁: | 否 |
分辨率 | 20nm | 加速电压 | 1kv |
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日立 FIB-SEM三束系统NX2000
产品介绍:
追求最完美的TEM样品制备工具
在尖端设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。
近来,目标观察物更趋微细化;更薄,更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。
日立高新公司,整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术,再加上加工方向控制技术以及Triple Beam?*1(选配)技术,推出了新一代产品NX2000
产品特点:
运用高对比度,实时SEM观察和加工终点检测功能,可制备厚度小于20 nm的超薄样品
FIB加工时的实时SEM观察*2例
样品:NAND闪存
加速电压:1 kV
FOV:0.6 μm
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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途