Trident薄膜导热测试仪

薄膜材料广泛应用于光学和电气保护膜，薄膜光伏电池和薄膜电池等各种领域中。尽管薄膜材料已经存在了数十年，但热导率测量方法传统上一直专注于探索块体材料样品，而表征这些特殊材料的能力相对滞后。近年来，由于热管理非常重要的纳米和微米级制造技术的进一步发展，知识鸿沟逐渐缩小，而Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面源即是一种用于表征薄膜材料导热率的新颖工具。 

C-Therm Trident薄膜导热测试仪的Flex TPS瞬态平面热源法传感器，可按照ISO 22007-2标准，用于表征薄膜材料的热传递性质。Flex TPS专门的薄膜模块，可测量厚度为20um ~ 1 mm样品的导热系数和热扩散系数。并且Trident主机，除TPS方法外，还可与MTPS和TLS传感器连用，测试更多不同类型的材料。

技术参数 

无论是散热还是绝热，薄膜的导热系数测试都具有非常重要的意义。由于薄膜材料厚度很小, 对声子散射，这使得薄膜材料的表观导热率与块体材料相比，会有很大的差异。传统的实验室测试方法中包含3ω方法，此方法在1989年提出。该方法需先在被测样品表面镀一根薄的金属膜，而此金属膜即是加热装置，同时又是测温装置。对该金属膜通交流电，从而对样品进行加热。因为金属的电阻率会随温度的升高而增大，因此金属膜的温度变化会带来金属膜阻值的温度变化，该阻值与电流的共同作用产生电压。使用锁相放大器提取电压信号，从而建立传热模型。通过改变电流频率，最终计算出被测样品的导热系数。但此测试方法操作繁琐，限制条件较多，且无法商业化。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途