描述：IG20 具有高亮度电子冲击气体离子源，专为氧气能力而设计，但也适用于惰性气体和其他气体。Hiden IG20 Ar/O2离子枪（Ion Gun），先进的......
描述：IG5C 具有低功耗、高亮度的表面电离源，与紧凑型离子柱耦合，在小型封装中提供高性能。Hiden IG5C 铯离子枪（Ion Gun），先进的离......
IMP-EPD是一款差泵、加固型二次离子质谱仪，用于分析离子束蚀刻过程中的二次离子和中性离子。仪器简介：IMP离子蚀刻探针（Ion Milling&n......
Hiden SIMS二次离子质谱工作站提供高性能静态和动态 SIMS 分析，用于的表面成份分析和深度剖析。SIMS 工作站(SIMS Workstat......
Hiden TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱工作站设计用于多种材料的表面分析和深度剖析应用，包括聚合物，药物，超导体，半导体，合金，光学和功能涂层以及电......
MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子，所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面，应用于SIMS和SNMS的光学采样......
描述：EQS 是差式泵式二次离子质谱（SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe），可分析来自固体......
Hiden PSM是一台结合质量和能量分析的仪器，用于分析等离子体过程中正、负离子、中性粒子以及自由基的种类和能量分布。PSM是一台差式泵质谱仪（In-Line......
描述：Hiden SIMS二次离子质谱工作站提供高性能静态和动态 SIMS 分析，用于的表面成份分析和深度剖析。SIMS 工作站(SIMS Workstatio......
扫一扫即可访问手机版展台
