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C-Therm TCi导热仪/导热系数仪

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C-Therm导热仪、热导仪, 加拿大C-Therm公司(C-Therm Technologies Ltd. )拥有世界领先的导热系数仪TCi。TCi采用“改良瞬态平面热源法(Modified Transient Plane Source,”MTPS”)”的专利技术,可直接对固体、液体、粉末和胶体等各种材料的导热系数(thermal conductivity)和热逸散率(thermal effusivity)进行快速、精确地测定。TCi的应用领域包括聚合物材料、相变材料、粉末材料、热界面材料、纳米材料、传热流体、隔热材料、热电材料、含能材料、建筑材料、地质材料和功能性织物等等,全球的客户包括美国海军、NASA、3M、霍尼韦尔、宝洁、杜邦、三星、清华大学、中国工程物理研究院、中科院化学所、北京理工等研究机构和高校。 TCi可用于实验室研发,质检控制及生产制造过程。测试仅需短短几秒,无需对样品进行制备,没有样品尺寸限制,且测试对样品无损。 TCi测试导热系数范围为0-500 W/mK,适用温度范围为-50°C~200°C,并可根据需要扩展至500°C。测试精确度优于5%,重复性优于1%。 TCi导热系数仪能非常方便地同控温箱、高压仓和手套箱等其他实验设备联合使用,满足用户对各种测试环境的不同需求。 除MTPS探头外,TCi另有瞬态热线法(Transient Line Source)探头可选,用于测试熔融高分子,土壤,沥青、油、蜡等材料。

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