仪器性能特点
DF-2000性能特点 | ||
测定元素 | Si-PIN探测器:钛元素—铀元素 | SDD探测器:镁元素—铀元素 |
样品形态 | 固体、液体、粉末样品均可直接检测 | |
操作特点 | 一键式设计,操作界面简单 | |
安全性能 | 多层保护,避免X射线对人体的辐射伤害 |
主要技术指标
(1)探测器
DF-2000选用了Si-PIN和SDD两种探测器,用户可根据自己的实际需要来选购。
探测器 | ||
类型 | SDD硅漂移探测器 | Si-PIN探测器 |
典型分辨率 | 125ev | 150ev |
输出计数率 | 100kcps | 30kcps |
峰背比 | >8000 | >6200 |
(2)一体化X射线发生器
一体化X射线发生器 | |
输入电压 | 9—11VDC |
输入电流 | 0.5A |
输出电压 | 50Kv,200uA |
zei大功率 | 4W |
稳定性 | 8小时0.2% |
光谱分析系统控制和数据处理系统
(1)12位模/数转换器
(2)3.5寸高清显示器
(3)Atom Z510 1.1GHz处理器,1G内存
(4)8G工业级(PQI) CF卡,可以存储更多数据
(5)自定义的XPE操作系统,用户使用更方便
(6)一键式设计,测量停止只需点击一下按钮
(7)结果、谱图两种模式自由切换。结果模式测量数据每秒更新,可据数据的稳定程度随时终止测量
(8)高容量聚合物锂离子电池,可以连续使用6小时
(9)预留USB接口
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经销商
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