Cypher S原子力显微镜

样品台移动范围：180mm*180mm

样品尺寸：直径<15/mm,直径<7mm

定位检测噪声：闭环噪音X,Y<0.06nm, Z<0.05nm，高度噪音<0.015nm

Cypher S 原子力显微镜

zei高分辨率的快速扫描原子力显微镜

原子力显微镜 Cypher S是一款打破传统AFM速度和分辨率限制的商业AFM。它使用的小型悬臂可以大幅提高速度和分辨率，独特的系统设计方法使其免受一般震动和温度波动的影响。Cypher S使您的日常测量工作更加简便，也可以帮助您完成zei具挑战性的工作。

        第三代原子力显微镜

• 分辨率高于 一般原子力显微镜

• 可以在几秒内完成快速扫描

• 每一步操作更加简便，产出效率大幅提升

• 您实验室中的一小步，是未来能力提升的一大步

• 为您提供超出预期的支持

“Cypher独一无二。” —Joshua Ager, UC Berkeley

包含模式：

• 接触模式

• DART™脉冲频率调制

• 高次谐波成像模式（Dual AC™）

• 双频共振追踪压电模式（DART）

• 静电力显微技术（EFM）

• 液态成像

• 力曲线模式

• 力映射模式（力曲线阵列模式）

• 力调制模式

• 调频模式

• 开尔文探针力显微镜（KPFM）

• 侧向力模式（LFM）

• 损耗角正切模式

• 改进调频制模式（MFM）

• MicroAngelo™（纳米光刻／纳米操控）

• 相位成像模式

• 压电响应力显微镜模式(PFM)

• 光谱开关PFM

• 轻敲模式（交流电模式）

• 轻敲模式（交流电模式）搭配Q控制器

• 矢量PFM

激光模块：

MultiLux™ Laser Modules

Cypher offers four Laser Modules, one of which is included with initial system purchase. It is possible to add any of the following additional laser modules to enhance the capabilities of the Cypher:

• Standard Laser Module: RF-modulated laser diode light source module with nominal 10 µm x 30 µm focused spot size. Recommended for all AC-mode imaging. (Model LD-STD)
   

• Small Spot Laser Module: RF-modulated laser diode light source module with nominal 3 µm x 9 µm focused spot size. Recommended for all AC-mode imaging with small cantilevers. (Model LD-SS)
   

• Standard SLD Module: Superluminescent Diode (SLD) light source with nominal 10 µm x 30 µm focused spot size. Recommended for all contact mode and force measurements. (Model SLD-STD)
   

• Small Spot SLD Module: SLD light source with nominal 3 µm x 9 µm focused spot size. Recommended for contact mode and force measurements using small cantilevers. (Model SLD-SS)

参考招标参数：

项目编号：GXZC2018-G1-14263-GXYL

项目名称：教学设备采购及安装

采购单位：广西科技大学

1 可控环境的原子力显微镜 1套

1.工作模式：

1.1轻敲模式带有Q-control控制技术 (AC mode)

1.2接触模式 (Contact mode)

1.3相位成像模式 (Phase imaging)

1.4横向力模式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5磁场力显微镜 (Magnetic Force Microscopy, MFM)

1.6压电力显微镜 (Piezo Response Force Microscopy, PFM mode)

1.7静电力显微镜 (Electric Force Microscopy, EFM) 

1.8表面电势显微镜 (Surface Potential Microscopy) 

1.9动态和静态力曲线测试（Force curve） 

1.10力阵列测量 (Force Volume Measurement) 

1.11纳米刻蚀 (Nanolithography)

1.12纳米操纵 (Nanomanipulation)

1.13▲高次谐波成像模式(Dual AC Mode）

1.14▲频率调制模式 (Frequency-modulation, FM mode)

1.15▲双频共振追踪 (Dual frequency resonance tracking, DART)

1.16▲智能探针校准 (GetReal) 不需要探针接触基底即可直接标定探针微悬臂弹性常数和灵敏度，避免传统方法为标定灵敏度需测试前要探针与基底先要接触一次而污染探针。

2. 扫描器

2.1 ▲扫描器须是X,Y,Z三轴分离的扫描器，X,Y,Z三个驱动轴须是严格正交；

2.2 X,Y方向的扫描范围不低于30μm，Z方向不低于5μm

2.3 ▲扫描器闭环噪音：X,Y轴闭环噪音<70pm（Adev,1Hz到1KHz带宽, Z轴闭环噪音<50pm (Adev,1Hz到1KHz测试带宽). 在闭环条件下实现原子晶格的分辨率。

2.4 ▲扫描速度：保证正常成像的前提下，1μm扫描范围时最高XY轴扫描线速度不低于40Hz，可在10秒之内完成一次扫描

2.5在没有外加防震平台的前提下，实现AFM方解石原子像测试要求。

2.6 ▲系统高度噪音<18pm（Adev,1Hz到1KHz带宽）

3. 控制器:

3.1至少二个全数字双频锁相放大器。其中2个为工作在20MHz的双频率数字积分锁相放大器；

3.2两个输出频率在40MHz的双频率频率合成器。频率范围从直流到最大15MHz（9mHz步长）。

3.3一个输出频率在10MHz的双频率频率合成器. 频率范围从直流到最大 2MHz（2mHz步长）。

3.4 ▲控制精度：控制器应至少有10个的24位和5个16位的数模转换器DAC，8个16位和6个18位模数转换器ADC。 

3.5 ▲数字调Q范围：2KHz-20MHz

3.6 ▲Cross PointTM 信号交换芯片

- 一个32 × 32路数字化信号交换芯片 

- 一个16 × 16路数字化信号交换芯片

3.7 ▲BNC开放信号接口，采购人可通过开放接口提取或控制系统，可与其他设备信号交换。

4.操作软件：

4.1 ▲操作软件永久免费升级。

4.2 ▲操作软件须为开源的，不受操作系统升级影响，可进行二次开发。

5.自动化控制：

5.1 ▲须通过软件控制激光点位置调节，无需手动调节。

5.2 ▲须通过软件控制光电二极管检测器自动归零，无需手动调节。

5.3 ▲具有软件自动进针进行智能扫描功能。

6. ▲光电检测器测试带宽 ≥ 7MHz

7. 防震隔音系统： 须为原子力显微镜系统自身集成的一体式防震隔音系统；隔音效果20dB。

8. 光学系统：CMOS像素点≥300万，光学分辨率≤1微米。

9. 液滴探针夹持器: 用于进行液相操作的液相（液滴）操作探针夹持器