技术参数：

型号：EDX3600K
X射线源：50KV、1mA
样品腔体积：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量
检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素
含量范围：ppm～99.99%
检测时间：10秒以上
检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器zei低至125eV
激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下
滤光片：6种滤光片组合自动切换
自旋装置：可调速的自旋装置
检出限：对样品中的大多数元素来说，zei低检出限达5～500ppm
真空系统：超真空系统，10秒可到10Pa
数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率
测试台：360°电动旋转式
保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成
样品放置：独特的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动
数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃

仪器配置：

铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
zei先进的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型