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EDX600B型X荧光光谱仪

tel: 400-6699-117 7000

天瑞仪器X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), 贵金属检测、镀层厚度检测,高灵敏度,一次分析24种元素

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  技术指标

  元素分析范围:从钾(K)到铀(U)

  测量对象:固体、液体、粉末

  测量精度:0.05%

  分析检出限:可达1ppm

  分析含量:一般为1ppm-99.9%

  多次测量重复性:0.1%

  长期工作稳定性:0.1%

  温度适应范围:15℃-30℃

  测量湿度:≤70%

  测量时间:60-300秒

  电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)

  标准配置

  单样品腔

  二维软件控制自动移动样品平台

  激光定位装置

  准直器(8个)自动切换装置(范围0.1mm-0.8mm)

  正比计数盒探测器

  信号检测电子电路

  高低压电源

  X光管

  计算机及喷墨打印机


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