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Bruker布鲁克 便携式微区X射线荧光光谱仪ARTAX

tel: 400-6699-117 1000

布鲁克X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), 对贵重物品在现场进行非破坏性的化学成分分析......

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分析元素:Na(11)~U(92)

空间分辨率达到70微米

探测器:分辨率优于165eV at MnKa 100Kcps,优于145eV分辨率探测器可选

X-Y-Z 三维自动定位跟踪样品台

微聚焦多孔毛细管镜与准直管相比强度提高1000倍以上

  • ARTAX 200:小型实验室,分析样品数目较少,要求可移动

  • ARTAX400:中等规模实验室,需要1维或2维图像

  • ARTAX 800:高水平要求的实验室,大量的样品,快速的样品通量

 

  200 400 800
基础系统      
带高压发生器50 kV/50 W的紧凑控制单元
从Na开始的轻元素检测选项,激发和检测路径的氦气流 选项
探头      
彩色CCD照相,500×582像素,约20倍放大
用于照亮样品的可调白色LED灯
激光点样,用于重现性地定位探头
检测器      
帕尔贴冷却的第四代XFlash®SDD硅漂移探测器,10 mm2活性区
能量分辨率< 160 eV 对于Mn-K&alpha; 在100Kcps
zei大计数速率>100 kcps,死时间<10%在40 kcps
探测器可升级为能量分辨率<145 eV,对于Mn-K&alpha; 在100Kcps 选项 选项
可更换的激发源      
X光管室带精密的简易更换源的锁定装置,包括电子机械快门,两个吸收滤光片
空气冷却的Mo X射线精细聚焦管*,zei大50 V,1 mA,50 W,可更换的准直仪,650 μm
空气冷却的Mo X射线精细聚焦管*,zei大50 V,1 mA,30 W,对微区,微聚焦多孔毛细管镜与准直管相比强度提高1000倍以上,横向分辨率< 100 μm,对于假发告知Sb K线
支架      
用于三点支撑系统的三脚架,自由转动臂和可变的高度调节(500 ~ 1500 mm)
X-Y-Z 三维自动定位跟踪样品台,带步进马达,50 mm范围 ARTAX 1维和2维成像软件
较轻的三脚架,为移动应用优化设计 选项 选项
软件      
ARTAXControl 半定量XRF软件,用于操控仪器和数据处理
ARTAXQuant 基于标准品的定量软件 选项 选项 选项
笔记本电脑 选项

*W, Rh, Cu和Ti管可选


厂家资料

地址:北京海淀区西小口路66号中关村东升科技园B-6号楼C座8层

电话:400-6699-117 转 1000

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