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OI Eclipse 4660吹扫捕集样品浓缩仪

tel: 400-6699-117 8787

OI Analytical顶空进样器, Eclipse中创新性的zl装置有效地改进了吹扫捕集技术的样品处理步骤......

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  捕集阱:

    •   3.175 毫米外径 x 2.667 毫米内径 (0.125“ 外径 x 0.105“ 内径)

    •   直接电阻加热

    •   冷却温度: 室温 +1 °C

    •   加热速率: >1,000 °C/分钟, 至 300 °C

    •   zei高温度: 450 °C

    •   冷却速率: >240 °C/分钟 (在50秒钟内, 200 °C 降至 30 °C)

  除水装置:

    •   除水至痕量水平, 只剩余大约 0.25 μL (0.063 μL/分钟) 捕集水 (除水率 >96%)†

    •   zei高温度: 240 °C

    •   冷却温度: 室温 +1 °C

    •   除水效率等同于在 4.8 °C 下冷凝

  样品加热选件:

    •   红外线加热方法

    •   插入样品内部的温度测量和反馈控制

    •   zei快样品加热速率: >35 °C/分钟 (5 mL); >17 °C/分钟 (25 mL)

    •   温度范围: 室温至 200 °C (空气脱附管zei高为 350 °C)

    •   入口温度: 室温至 200 °C

  样品流路:

    •   Hydroguard™ Q/qy“ 管

    •   Hydroguard 传输管线: 标配 48“; 可选 60“

  可编辑的温度范围:

    •   捕集阱: 在吹扫, 脱附和烘焙阶段, 室温至 450 °C

    •   样品传输管线: 室温至 295 °C

    •   阀体腔: 室温至 350 °C

    •   吹扫管座: 室温至 200 °C

    •   温度准确度: 对于所有加热区 ±2% 或 ±2 °C (取较大值)

    •   温度稳定度: 对于所有加热区 ±2 °C

    •   样品加热选件: 室温至 200 °C (空气脱附管为 350 °C)

    •   系统自检过程中, 检测所有加热区的温度






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地址:北京市海淀区温泉镇高里掌路1号院翠湖云中心15号楼一层

电话:400-6699-117 转 8787

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