上海仪电分析仪器有限公司紫外可见分光光度计参数

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号i系列
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围：190nm～1100nm
• 波长zei大允许误差：±0.3nm
• 波长重复性：≤0.2nm
• 透射比测量范围：0～200%T
• 吸光度测量范围：-0.301 A～4.000A

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号UV765
• 中文简称UV765紫外可见分光光度计
• 英文简称UV765 UV-VIS spectrometer
• 产地上海
• 上市时间2007年10月30日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号L系列
• 中文简称紫外可见
• 英文简称UV-Vis Spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2013年5月2日

• 波长范围：190nm～1100nm
• 波长zei大允许误差：±0.3nm
• 波长重复性：≤0.2nm
• 透射比测量范围：0～200%T
• 吸光度测量范围：-0.301 A～4.000A

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号L9
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2016年10月9日

• 波长范围：190nm~1100nm
• 波长准确度：±0.3nm
• 波长重复性：≤0.1nm
• 透射比准确度：±0.3%
• 透射比重复性：≤0.15%

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号L8（762）
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2011年

• 波长范围：190nm~1100nm
• 波长准确度：±0.3nm
• 波长重复性：≤0.1nm
• 透射比准确度：±0.3%
• 透射比重复性：≤0.15%

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号L3/L3S
• 中文简称可见分光光度计
• 英文简称Visible spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2011年

• 波长范围：325nm～1100nm
• 波长zei大允许误差：±0.5nm
• 波长重复性：≤0.2nm
• 光谱带宽：2nm
• 杂散光：≤0.05%（T）(在360nm处，以NaNO2测定)

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号UV762
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2011年

• 波长范围：200nm～1100nm
• 波长zei大允许误差：±0.5nm
• 波长重复性：≤0.2nm
• 透射比zei大允许误差：±0.5%（T）（以NBS930D测定）
• 透射比重复性：0.2%（T）

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号752N
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围；200nm～1000nm
• 波长zei大允许误差：±2nm
• 波长重复性：≤1nm
• 透射比zei大允许误差：±0.5%（T）（以NBS930D测定）
• 透射比重复性：≤0.2%（T）

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号UV755B
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围；200nm～1000nm
• 波长zei大允许误差：±1nm
• 波长重复性：≤0.5nm
• 透射比zei大允许误差：±0.5%（T）
• 透射比重复性：≤0.2%（T）

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号N4S/N4
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围：200nm～1000nm
• 波长zei大允许误差：±1nm
• 波长重复性：≤0.5nm
• 透射比zei大允许误差：±0.5% (T) (以NBS930D测试)
• 透射比重复性：≤0.2% (T)

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号UV754N
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 200nm～1000nm
• 波长zei大允许误差：±2nm
• 波长重复性：≤1nm
• 透射比zei大允许误差：±0.5%（T）（以NBS930D测定）
• 透射比重复性：≤0.2%（T）

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号723N
• 中文简称可见分光光度计
• 英文简称Visible spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围：325nm～1000nm
• 波长zei大允许误差：±1nm
• 波长重复性：≤0.5nm
• 光谱带宽：4nm
• 杂散光：≤0.3%(T)（在360nm处，以NaNO2测试，实测0.1%τ）

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号N2/N2S
• 中文简称可见分光光度计
• 英文简称Visible spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围：325nm～1000nm
• 波长zei大允许误差：±1nm
• 波长重复性：≤0.5nm
• 透射比zei大允许误差：±0.5% (T) (以NBS930D测试)
• 透射比重复性：≤0.2% (T)

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号L6/L6S
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围：190nm～1100nm
• 波长zei大允许误差：±0.5nm
• 波长重复性：≤0.2nm
• 光谱带宽：2nm
• 杂散光：≤0.036%（T）(在220nm处，以NaI测定) (在360nm处，以NaNO2)测定)

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号L5/L5S
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围：190nm～1100nm
• 波长zei大允许误差：±0.5nm
• 波长重复性：≤0.2nm
• 光谱带宽：2nm
• 杂散光：≤0.056%（T）(在220nm处，以NaI测定) (在360nm处，以NaNO2)测定)

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号760CRT
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2011年

• 测光方式：双光束C-T式光路结构，全息闪耀光栅分光器，光电倍增管检测。
• 波长范围：190nm～900nm
• 分辨率：优于0.15nm
• 光谱带宽：0.08nm～5nm间隔0.01nm连续可调
• 波长zei大允许误差：±0.3nm（内装自动波长校正装置）

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号722S
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围；340nm～1000nm
• 波长zei大允许误差：±2nm
• 波长重复性；≤1nm
• 光谱带宽：6nm
• 透射比范围：0.0%（T）～199.9%（T）

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号UV757CRT
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围：200nm～1000nm
• 光源：钨卤素灯12V20W（进口） DD2.5氘灯（进口）
• 接收元件：光电池
• 波长zei大允许误差：±0.5nm
• 波长重复性：≤0.2nm

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号L2/L2S
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 上市时间2007年

• 波长范围：325nm～1100nm
• 波长zei大允许误差：±0.5nm
• 波长重复性：≤0.2nm
• 光谱带宽：2nm
• 杂散光：≤0.05%（T）(在360nm处，以NaNO2测定)

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号7230G
• 中文简称可见分光光度计
• 英文简称Visible spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围：330nm～900nm
• 波长zei大允许误差：±1nm
• 波长重复性：≤0.5nm
• 光谱带宽：6nm
• 透射比zei大允许误差：±0.8%( T) (以NBS930D测试)

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号721S
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称UV-Vis spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 光学系统：C-T式单色器（衍射光栅）
• 波长范围；360nm～1000nm
• 波长zei大允许误差：±3.0nm
• 波长重复性：≤1.5nm
• 透射比zei大允许误差：±1.0%（T）（0～100%tT）

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号722N
• 中文简称可见分光光度计
• 英文简称Visible spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围；325nm～1000nm
• 波长zei大允许误差：±2nm
• 波长重复性：≤1nm
• 透射比zei大允许误差：±0.5%（T）（以NBS930D测定）
• 透射比重复性：≤0.2%（T）

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号721N
• 中文简称可见分光光度计
• 英文简称Visible spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 波长范围；360nm～1000nm
• 波长zei大允许误差：±2nm
• 波长重复性：≤1nm
• 透射比zei大允许误差：±0.5%（T）（以NBS930D测定）
• 透射比重复性：≤0.2%（T）

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号721G/721G-100/722G
• 中文简称可见分光光度计
• 英文简称Visible spectrophotometer
• 产地上海
• 上市时间2007年

• 340nm～1000nm（721G/721G-100） 325nm～1000nm（722G）
• 波长zei大允许误差：±2nm
• 波长重复性：≤1nm
• 透射比波长zei大允许误差：±0.5%（T）
• 透射比重复性：≤0.2%（T）

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号UV752N
• 中文简称UV752N 紫外可见分光光度计
• 英文简称UV752N
• 产地上海
• 上市时间2013年1月17日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号722S
• 中文简称722S可见分光光度计
• 英文简称722S
• 产地上海
• 上市时间2013年2月21日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号UV755B型
• 中文简称UV755B型紫外可见分光光度计
• 英文简称UV755B型
• 产地上海
• 上市时间2013年3月12日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号UV760CRT型
• 中文简称UV760CRT型双光束紫外可见分光光度计
• 英文简称UV760CRT型
• 产地上海
• 上市时间2013年4月16日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号RP508
• 中文简称RP508农药残毒速测仪
• 英文简称RP508
• 产地上海
• 上市时间2013年8月14日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号UV757CRT/UV757CRT/PC
• 中文简称UV757CRT/UV757CRT/PC紫外可见分光光度计
• 英文简称UV757CRT/UV757CRT/PC
• 产地上海
• 上市时间2013年7月16日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号UV754N
• 中文简称UV754N紫外可见分光光度计
• 英文简称UV754N
• 产地上海
• 上市时间2013年2月14日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号UV759/UV759S
• 中文简称UV759/UV759S紫外可见分光光度计
• 英文简称UV759/UV759S
• 产地上海
• 上市时间2013年6月14日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号上海仪电分析 可见分光光度计 721N
• 中文简称上海仪电分析 可见分光光度计 721N
• 英文简称 721N
• 产地上海
• 上市时间2015年5月5日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号上海仪电分析 721
• 中文简称上海仪电分析 可见分光光度计 721
• 英文简称721
• 产地上海
• 上市时间2015年5月5日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号上海仪电分析 紫外可见分光光度计 N4
• 中文简称上海仪电分析 紫外可见分光光度计 N4
• 英文简称 N4/N4S
• 产地上海
• 上市时间2015年5月5日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号上海仪电分析 可见分光光度计 722N
• 中文简称上海仪电分析 可见分光光度计 722N
• 英文简称722N
• 产地上海
• 上市时间2015年5月5日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号上海仪电分析 可见分光光度计 722S
• 中文简称上海仪电分析 可见分光光度计 722S
• 英文简称 722S
• 产地上海
• 上市时间2015年5月5日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号上海仪电分析 可见分光光度计 722G
• 中文简称上海仪电分析 可见分光光度计 722G
• 英文简称722G
• 产地上海
• 上市时间2015年5月5日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号上海仪电分析 可见分光光度计 721G
• 中文简称上海仪电分析 可见分光光度计 721G
• 英文简称 721G
• 产地上海
• 上市时间2015年5月5日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号可见分光光度计721
• 中文简称可见分光光度计721
• 英文简称 721
• 产地上海
• 上市时间2015年5月10日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号可见分光光度计721N
• 中文简称可见分光光度计721N
• 英文简称721N
• 产地上海
• 上市时间2015年5月11日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号可见分光光度计722N
• 中文简称可见分光光度计722N
• 英文简称722N
• 产地上海
• 上市时间2015年5月13日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号可见分光光度计722G
• 中文简称可见分光光度计722G
• 英文简称 722G
• 产地上海
• 上市时间2015年5月14日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号722S可见分光光度计
• 中文简称722S可见分光光度计
• 英文简称722S
• 产地上海
• 上市时间2015年5月15日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号可见分光光度计7230G
• 中文简称可见分光光度计7230G
• 英文简称 7230G
• 产地上海
• 上市时间2015年5月16日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号紫外分光光度计755B
• 中文简称紫外分光光度计755B
• 英文简称 755B
• 产地上海
• 上市时间2015年5月17日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号 751GD
• 中文简称紫外分光光度计751GD
• 英文简称 751GD
• 产地上海
• 上市时间2015年5月17日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号紫外分光光度计754N
• 中文简称紫外分光光度计754N
• 英文简称 754N
• 产地上海
• 上市时间2015年5月19日

上海仪电分析仪器有限公司

• 型号 UV-759
• 中文简称紫外可见分光光度计
• 英文简称 UV-759
• 产地上海
• 上市时间2015年5月25日