高德英特(北京)科技有限公司二次离子质谱/离子探针参数
发布时间:2024-04-27 10:28
tel: 400-6699-117 转 1000高德英特(北京)科技有限公司
- PHI TRIFT V nano SIMS
- 飞行时间二次离子质谱仪
- SIMS-TOF
- 日本
- 2010年11月30日
- 分辨率:>10,000
- TRIFT质量分析器
- 30 kV LMIG with Bi, Au, or Ga emitter
- 5 轴样品台
- 350 L/秒抽速分子涡轮泵
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