株式会社理学X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪）参数

株式会社理学

• 型号Rigaku理学NEX-CG
• 中文简称X荧光分析仪
• 英文简称XRF
• 产地美国
• 上市时间2005年03月

株式会社理学

• 型号NEX-QC/NEX-QC+
• 中文简称NEX-QC/NEX-QC+ X荧光光谱仪
• 英文简称NEX-QC/NEX-QC+ X fluorescence spectrometer
• 产地日本
• 上市时间2015年3月8日

株式会社理学

• 型号NEX QC
• 中文简称理学能量色散X射线荧光光谱仪NEX QC
• 英文简称Low-cost energy dispersive X-ray fluorescence analyzer
• 产地日本
• 上市时间2013年11月6日

株式会社理学

• 型号NEX DE
• 中文简称理学能量色散X射线荧光分析仪NEX DE
• 英文简称FAST SDD EDXRF spectrometer with QuantEZ software
• 产地日本
• 上市时间2013年11月6日

株式会社理学

• 型号NEX CG
• 中文简称理学能量色散型X射线荧光分析仪 NEX CG
• 英文简称Cartesian geometry energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer
• 产地日本
• 上市时间2013年11月6日

株式会社理学

• 型号3D CT与Nano 3DX
• 中文简称理学3D CT与Nano 3DX
• 英文简称3D CT与Nano 3DX
• 产地日本
• 上市时间2013年5月19日

株式会社理学

• 型号上照式
• 中文简称理学上照射式 X射线荧光光谱仪
• 英文简称上照式
• 产地日本
• 上市时间2013年5月19日