“起荧”翡翠的矿物学特征及光学原理研究
采用X射线粉末衍射仪(XRD)、傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)、X射线能谱仪(EDS)和扫描电子显微镜(SEM)等测试仪器对目前珠宝市场价值较高的"起荧"翡翠样品进行了矿物学、岩石学研究,并对其"起荧"现象的光学原理进行了初步探讨。研究结果表明,翡翠(包括硬玉质翡翠和绿辉石质翡翠)的"起荧"现象与其化分成分无必要关联。翡翠发生"起荧"现象的必要条件为:1.翡翠饰品应整体或局部被切磨成弧面琢型,其弧面琢型的高度对"起荧"现象的强弱有一定的影响;2.翡翠饰品的表面抛光精良;3.翡翠的矿物颗粒大小基本上在0.05~0.14 mm范围内。
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