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通过辐射发射测试:如何避免采用复杂的EMI抑制技术...-1

2020.10.05

通过辐射发射测试:如何避免采用复杂的EMI抑制技术以实现紧凑、高性价比的隔离设计


James Scanlon  ADI公司

出于各种原因,电子系统需要实施隔离。它的作用是保护人员和设备不受高电压的影响,或者仅仅是消除PCB上不需要的接地回路。在各种各样的应用中,包括工厂和工业自动化、医疗设备、通信和消费类产品,它都是一个基本设计元素。

虽然隔离至关重要,但它的设计也极其复杂。控制功率和数据信号通过隔离栅时,会产生电磁干扰(EMI)。这些辐射发射(RE)会对其他电子系统和网络的性能产生负面影响。

对于带隔离的电路设计,一个重要的步骤是跨隔离栅传输功率,并缓解产生的RE。虽然传统方法可能行之有效,但它们往往需要权衡取舍。其中可能包括使用分立式电路和变压器来传输功率。这种方法笨重耗时,会占用宝贵的PCB空间,无一不会增加成本。更经济高效的解决方案是将变压器和所需的电路集成到更小外形中,如芯片封装

虽然这样可以节省电路板空间,降低设计的复杂性和成本,但也使得变压器体积变小,具备的绕组更少,需要更高的开关频率(高达200 MHz)才能高效地将所需的功率传输到次级端。在更高频率下,寄生共模(CM)电流可能通过变压器的绕组以容性方式从初级端耦合至次级端。因隔离栅的性质所限,没有物理路径可以让这些CM电流返回初级端。隔离栅形成一个偶极,将能量以CM电流的形式辐射,并让其返回到初级端。这就引发了另一个重要考虑因素:合规性。

电磁兼容性(EMC)要求

产品上市前,必须符合EMC规定。将变压器和所需的电路集成到更小的封装中会产生EMI,因此需要采用复杂且成本高昂的RE抑制技术,以满足电磁兼容性(EMC)法规的要求。

EMC是指电子系统在其目标环境中正常工作而不干扰其他系统的能力。全球不同地区都有EMC法规,用于确保所有产品在有其他产品存在的情况下都能正常工作。辐射发射量必须低于目标使用环境和应用场合所对应的规定水平。因此,EMC测试和认证已成为产品上市过程的一个重要组成部分。在欧盟销售的产品需要具有CE标志,而在美国销售的产品则需要获得FCC分类认证。为取得这些认证,需要对系统执行一套EMC测试。在工业、医疗、通信和消费环境中,辐射发射通常必须符合CISPR 11/EN 55011、CISPR 22/EN 55022或FCC Part 15标准。

通过辐射发射测试:如何避免采用复杂的EMI抑制技术以实现紧凑、高性价比的隔离设计

图1.发射量增高的示例。

CISPR 11/EN 55011

此标准适用于为工业、科学和医疗(ISM)目的而设计的产生射频能量的设备。在标准范围内,设备可能分为两组。第2组包含有意生成并在局部使用射频能量的所有ISM RF设备。第1组包含此标准范围内不属于第2组的所有设备。

CISPR 22/EN 55022

此标准适用于满足下述条件的信息技术设备(ITE):主要功能是将输入、存储、显示、检索、传输、处理、交换或控制数据和电信信息结合起来,可能配备一个或多个终端端口,通常用于传输信息。

在各个标准下,设备被进一步分类,每个类别需遵循一组单独的排放限制。

u         A类:用在工业应用和非住宅区的设备

u         B类:用在住宅环境中的设备

由于B类限制覆盖的是住宅(或轻工业)环境,而这种环境中的产品更有可能彼此非常接近(广播和电视接收器的10米范围内),因此更加严格(比A类低10 dB之多),以免引起干扰问题。

图2显示了与CISPR 11/EN 55011和CISPR 22/EN 55022相关的A类和B类限制线。在这个频率范围内,符合CISPR 22/EN 55022 B类标准意味着也符合CISPR 11/EN 55011 B类标准。

通过辐射发射测试:如何避免采用复杂的EMI抑制技术以实现紧凑、高性价比的隔离设计

图2.辐射发射标准—限制线。

在设计周期一开始就考虑EMC

据报道,50%的产品首次EMC测试都以失败告终。1这可能是因为缺乏相关知识,且未能在产品设计阶段的早期应用EMC设计技术。如果在功能设计完成之前一直忽略EMC问题,通常会带来耗费时间且代价高昂的挑战。此外,随着产品开发过程的不断深入,能够用来解决EMC问题的技术也越来越少,因为产品方面的更改必将导致计划超时和成本增加。

想要最大限度地缩短设计时间和降低项目成本,在项目开始时就进行EMC设计是至关重要的。组件的选择和放置也很重要。将已经符合行业标准的器件纳入选择和设计可以提高合规性。


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