JEOL推出全新扫描电子显微镜JSM-IT100 InTouchScope™
分析测试百科网讯 2015年11月30日，日本电子宣布推出一款全新扫描电子显微镜JSM-IT100 InTouchScope™。该仪器结构紧凑、节省空间，分辨率高。
JSM-IT100拥有比前代产品（JSM-6510，JSM-6010 Plus InTouchScope™）更小的体积，大大增加了现场安装的灵活性。
JSM-IT100拥有非常直观的操作系统，即使没有经验的用户也可进行操作，显微观察元素分析只需要触摸一个按钮。新的JSM-IT100系列包括以下4款型号供客户根据自己的需要配置：JSM-IT100（BU）基础型；可以低真空观察的JSM-IT100（LV）型；具有完全嵌入EDS系统的JSM-IT100（A）型和集所有功能于一身的JSM-IT100（LA）型。
主要特点
舒适和直观的操作触摸屏。
易于使用的软件界面，包括完整的集成观察和元素分析，让没有经验的用户可以实现高效率的任何任务。
极高的灵活性，可配相同选项的高档仪器。
扩展EDS功能，包括如区域分析和线扫描。
节省空间，安装方便。一个100V电源插座就足以安装。不需要任何冷却水。
主要技术指标
解析度
高真空模式：4.0nm（20kV），3.0nm（30kV）*
低真空模式：5.0nm（20kV），4.0nm（30kV）*
放大倍数：×5至×30万
加速电压：0.5KV至20kV，0.5KV到30kV*
大型中心轴样品台：（5-轴，手动驱动X，Y，Z，R，T），X：80mm，Y：40mm，Z：5mm至48mm，T： -10° 至+ 90°，R：360°
试件最大尺寸直径：150mm
仪器尺寸：W：630mm x D：840mm x H：1450mm
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