JEOL推出全新扫描电子显微镜JSM-IT100 InTouchScope™

2015-12-07 15:55 来源: 分析测试百科
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  分析测试百科网讯 2015年11月30日,日本电子宣布推出一款全新扫描电子显微镜JSM-IT100 InTouchScope™。该仪器结构紧凑、节省空间,分辨率高。

  JSM-IT100拥有比前代产品(JSM-6510,JSM-6010 Plus InTouchScope™)更小的体积,大大增加了现场安装的灵活性。

  JSM-IT100拥有非常直观的操作系统,即使没有经验的用户也可进行操作,显微观察元素分析只需要触摸一个按钮。新的JSM-IT100系列包括以下4款型号供客户根据自己的需要配置:JSM-IT100(BU)基础型;可以低真空观察的JSM-IT100(LV)型;具有完全嵌入EDS系统的JSM-IT100(A)型和集所有功能于一身的JSM-IT100(LA)型。

  主要特点

  舒适和直观的操作触摸屏。

  易于使用的软件界面,包括完整的集成观察和元素分析,让没有经验的用户可以实现高效率的任何任务。

  极高的灵活性,可配相同选项的高档仪器。

  扩展EDS功能,包括如区域分析和线扫描。

  节省空间,安装方便。一个100V电源插座就足以安装。不需要任何冷却水。

  主要技术指标

  解析度

  高真空模式:4.0nm(20kV),3.0nm(30kV)*

  低真空模式:5.0nm(20kV),4.0nm(30kV)*

  放大倍数:×5至×30万

  加速电压:0.5KV至20kV,0.5KV到30kV*

  大型中心轴样品台:(5-轴,手动驱动X,Y,Z,R,T),X:80mm,Y:40mm,Z:5mm至48mm,T: -10° 至+ 90°,R:360°

  试件最大尺寸直径:150mm

  仪器尺寸:W:630mm x D:840mm x H:1450mm

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