CNS 10794-1984
触针式表面粗糙度测定仪

Instruments for the Measurement of Surface Roughness by the Stylus Method


CNS 10794-1984 中,可能用到以下仪器

 

表面张力分析仪WAM-100

表面张力分析仪WAM-100

上海胤煌科技有限公司

 

CNS 10794-1984

标准号
CNS 10794-1984
发布
1984年
发布单位
台湾地方标准
当前最新
CNS 10794-1984
 
 
本标准适用于可坐下列一项或数项测定之触针式表面粗糙度测定仪 (以下简测定仪) ,以触针方式记录被测定面之断面曲线,粗糙度曲线,及中心线平均粗糙;或直接表示中心线平均粗糙程度。

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