QJ 3044-1998
半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法

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标准号: QJ 3044-1998
发布日期: 1998年02月06日
实施日期: 1998年08月01日
废止日期: 无
中国标准分类号: V25
发布单位: CN-QJ

QJ 3044-1998 中可能用到的仪器设备

离子色谱仪IC X射线衍射仪(XRD) X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪）热解吸仪，热脱附仪有机元素分析仪露点仪液质联用仪光度仪、雾度仪、光泽度仪折光仪(折射仪) 流变仪离心机凝胶/WB/CL成像系统水质重金属检测/监测仪 COD分析仪 COD消解仪/COD消解器

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