SY/T 6414-1999
全岩光片显微组分测定方法

Maceral analysis on polished surfaces of whole rocks


SY/T 6414-1999 中,可能用到以下仪器

 

Meiji 落射荧光显微系统

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北京中科科尔仪器有限公司

 

全内反射荧光显微镜(TIRF)模块

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北京欧兰科技发展有限公司

 

迅数Algacount S200型藻类智能鉴定计数仪

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杭州迅数科技有限公司

 

迅数Algacount R100藻类辅助鉴定计数仪

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杭州迅数科技有限公司

 

迅数T200藻类智能鉴定计数仪

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迅数T100藻类智能鉴定计数仪

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杭州迅数科技有限公司

 

SY/T 6414-1999



标准号
SY/T 6414-1999
发布日期
1999年05月17日
实施日期
1999年12月01日
废止日期
2015-03-01
中国标准分类号
E11
发布单位
CN-SY
代替标准
SY/T 6414-2014
适用范围
本标准规定了在偏反光显微镜下,用反射白光和反射荧光测定全岩光片显微组分体积分数的方法。 本标准适用于暗色泥岩、碳酸盐岩和煤光片显微组分的测定。

SY/T 6414-1999 中可能用到的仪器设备


谁引用了SY/T 6414-1999 更多引用





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