JJG 427-1986
带表千分尺检定规程

Verification Regulation of Micrometers with Gauge Scale Division of 0.001mm


JJG 427-1986 中,可能用到以下仪器设备

 

F20 薄膜厚度测量仪

F20 薄膜厚度测量仪

优尼康科技有限公司

 

F60-t 薄膜厚度测量仪

F60-t 薄膜厚度测量仪

优尼康科技有限公司

 

F54 薄膜厚度测量仪

F54 薄膜厚度测量仪

优尼康科技有限公司

 

F50 光学膜厚测量仪

F50 光学膜厚测量仪

优尼康科技有限公司

 

F10-AR 薄膜厚度测量仪

F10-AR 薄膜厚度测量仪

优尼康科技有限公司

 

F10-HC 薄膜厚度测量仪

F10-HC 薄膜厚度测量仪

优尼康科技有限公司

 

JJG 427-1986



标准号
JJG 427-1986
发布日期
1986年
实施日期
废止日期
中国标准分类号
A52
发布单位
国家计量检定规程
代替标准
JJG 427-2004

JJG 427-1986相似标准


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